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TS 77 Select布魯克BRUKER納米壓痕儀

布魯克BRUKER納米壓痕儀TS 77 Select精選是自動(dòng)化臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測(cè)試系統(tǒng)，可提供同類儀器的性能、多功能和易用性。這種新型測(cè)試系統(tǒng)以布魯克的TriboScope電容式傳感器技術(shù)為設(shè)計(jì)，在納米至微米尺度上提供可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。TS 77 精選支持最主流的測(cè)試模式，是定量納米壓痕、動(dòng)態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學(xué)性能成像的高性價(jià)比解決方案。

更新日期：2024-12-02訪問(wèn)量：1970廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系
Dimension FastScanBRUKER原子力顯微鏡

為滿足AFM使用者對(duì)提高AFM使用效率的需求，Bruker開(kāi)發(fā)了BRUKER原子力顯微鏡Dimension FastScan，不降低分辨力，不增加設(shè)備復(fù)雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時(shí)快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。

更新日期：2024-12-02訪問(wèn)量：2136廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系
布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR

布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR（SPM）系統(tǒng)攘括了原子力顯微鏡數(shù)十年來(lái)的研究和技術(shù)創(chuàng)新。通過(guò)常規(guī)的真原子相分辨率，以及一系列*的技術(shù)，包括峰值力輕敲模式、數(shù)據(jù)立方體模式、SECM和AFM-nDMA，Dimesnion XR系統(tǒng)可提供性能和功能。Dimension XR 系列將這些技術(shù)整合提供完整的解決方案，以滿足納米力學(xué)、納米電氣和納米電化學(xué)應(yīng)用的需求。在空氣、流體、電氣或

更新日期：2024-12-02訪問(wèn)量：1997廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系
NanoWizard 4 XPbruker生物型原子力顯微鏡

bruker生物型原子力顯微鏡NanoWizard 4 XP特點(diǎn)： ·高分辨定量成像 ·150Hz快速掃描助力動(dòng)態(tài)變化過(guò)程研究 ·與精密先進(jìn)光學(xué)顯微鏡結(jié)合 ·新一代基于工作流程的軟件革新 ·靈活易用的模塊化設(shè)計(jì)與大量模塊的拓展性

更新日期：2024-12-02訪問(wèn)量：2268廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker高分辨原子力顯微鏡MultiMode 8

MultiMode® 測(cè)試平臺(tái)作為歷史悠久的經(jīng)典機(jī)型，由于其分辨率與性能享譽(yù)至今。Bruker布魯克原子力顯微鏡MultiMode 8通過(guò)高速PeakForce Tapping ®、增強(qiáng)的 PeakForce QNM®、全新的 FASTForce Volume和布魯克探針技術(shù)，在成像速度、分辨率和納米機(jī)械性能方面有了進(jìn)一步的改進(jìn)，使得綜合性能顯著提升。

更新日期：2024-12-02訪問(wèn)量：1489廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系

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