布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR系列掃描探針顯微鏡儀器，集成了過去幾十年的研究和技術創(chuàng)新經驗，為納米力學、電學、電化學等先進研究領域的表征工作提供了功能模塊方案，使得對空氣、液體或電化學環(huán)境里的材料和納米 系統(tǒng)的定量表征更加簡便。

AFM -nDMA

AFM 可以在納米尺度上研究聚合物樣品在流變性相關頻率線性區(qū)域的性能，提供完整的定量粘彈性分析。專有的雙通道檢測、相位漂移校正和參考頻率追蹤技術在流變相關的0.1 Hz至20 kHz頻率范圍內進行小應變測量，獲得與宏觀DMA分析相符的存儲模量、損耗模數(shù)和損耗角正切值等性質。

專有的數(shù)據(jù)立方體模式

這些模式利用快速力陣列模式在每個像素點中執(zhí)行力曲線測量，并具有用戶定義的停留時間數(shù)據(jù)采集。使用高速數(shù)據(jù)捕獲功能，在停留期間執(zhí)行多種電學測量，從而在每個像素上產生電學和力學譜。數(shù)據(jù)立方體模式在單次測量中提供完整的表征，這在商用AFM中是少見的。

所有模式、所有環(huán)境的高分辨率

無論是在液體環(huán)境中獲得樣品真原子相，還是在空氣中獲得樣品模量和導電性的原子級分辨率分布，Dimension XR系統(tǒng)在所有測量中都能提供高的分辨率。它們使用布魯克專有的峰值力輕敲技術在各種軟硬樣品上的性能表征，包括聚合物中的分子缺陷或晶體中的缺陷。同樣技術也被用來分辨粗糙玻璃上的精細起伏結構，且具有驚人的穩(wěn)定性，在數(shù)百次掃描后還能保持分辨率。Dimension XR系統(tǒng)將峰值力輕敲模式與穩(wěn)定性、*的探針技術和布魯克數(shù)十年的針尖掃描創(chuàng)新經驗相結合，在各種尺寸、重量或介質的樣品上，在任何應用中都實現(xiàn)了穩(wěn)定的高分辨率成像。

峰值力掃描電化學顯微鏡

具有納米級空間分辨率的峰值力輕敲掃描探針顯微鏡重新定義了液體中納米尺度下電化學過程表征。峰值力輕敲掃描探針電化學顯微鏡在數(shù)量級上顯著改善了與傳統(tǒng)方法的分辨率。這使得對能源存儲系統(tǒng)、腐蝕科學和生物傳感器的更全新研究，為單個納米粒子、納米相和納米孔進行新測量打開了大門。只有峰值力輕敲掃描探針電化學顯微鏡能同時形貌、電化學、電學和力學分布圖，并具有納米尺度的橫向分辨率。