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BrukerDektakPro布魯克臺(tái)階儀DektakPro™以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測(cè)量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4?重復(fù)性的表現(xiàn)，并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng)，在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測(cè)量方面設(shè)立了新的目標(biāo)，是微電子......
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原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contactmode)，非接觸模式（non-contactmode)和敲擊模式(tappingmode）。接觸模式從概念上來理解，接觸模式是AFM最直接的成像模式。AFM在整個(gè)掃描成像過程之中，探針針尖始終與樣品表面保持......
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等離子設(shè)備在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用，如電子、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等。為了確保等離子設(shè)備的正常運(yùn)行和延長(zhǎng)其使用壽命，以下是一些建議的維護(hù)和保養(yǎng)方法：1、定期檢查電源線和插頭：確保電源線沒有磨損、斷裂或老化現(xiàn)象。檢查插頭是否松動(dòng)或損壞，如有需要，及時(shí)更換。2、清潔設(shè)備表面：使用干凈的軟布輕輕擦拭設(shè)備表面，以去除灰塵和污垢。避......
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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對(duì)微弱力敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得......
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Bruker公司的AnasysnanoIR3型納米紅外光譜測(cè)量系統(tǒng)，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，提高至10納米級(jí)別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100......
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