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bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3

簡(jiǎn)要描述:bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級(jí)別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)。

  • 所在城市:上海市
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新日期:2024-12-02
  • 訪  問(wèn)  量:2333
詳細(xì)介紹
品牌Bruker/布魯克信噪比/
掃描速度<3s/光譜秒分辨率<1cm-1
波數(shù)范圍800-3600cm-1儀器類(lèi)型實(shí)驗(yàn)室型
價(jià)格區(qū)間20萬(wàn)-25萬(wàn)儀器種類(lèi)激光紅外
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,石油,電子,紡織皮革

bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級(jí)別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)。


下面是bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3的技術(shù)優(yōu)勢(shì):

10nm超高化學(xué)解析分辨率,揭示微區(qū)化學(xué)組分

  • 準(zhǔn)確的微區(qū)化學(xué)表征:基于光熱誘導(dǎo)效應(yīng)PTIR原理,與FTIR光譜*吻合,沒(méi)有吸收峰的任何偏移;

  • 超快光譜采集:光譜采集速度:<3s/光譜,光譜分辨率:<1 cm-1;

  • AFM成像速度一致的快速化學(xué)成像,全自動(dòng)光路優(yōu)化,避免實(shí)驗(yàn)困惱;

  • 二維可視化光斑追蹤,保證最佳信號(hào);

  • 全自動(dòng)軟件控制入射光束準(zhǔn)直技術(shù)修正激光的偏移,動(dòng)態(tài)能量調(diào)整,確保信號(hào)的準(zhǔn)確性;

嵌段共聚物P2VP&PSAFM-IR光譜和紅外成像

  1. 超寬中紅外激光,實(shí)現(xiàn)O-H, N-H, C-H等官能團(tuán)的表征

  • 超寬中紅外激光:800-3600 cm-1;

  • 多種光源可選,可集成THz,同步輻射光源,可見(jiàn)光,近紅外,自由電子激光器等;

PS的寬波段納米紅外光譜,與FTIR光譜一致


CH3NH3PbI3的微區(qū)電子吸收成像(13250 cm-1)和AFM-IR光譜


  1. Hyperspectrum全像素三維光譜技術(shù)

  • 超快光譜:~1s/pixel

  • AFM任意點(diǎn)的全譜信息;

  1. 支持全系列掃描探針顯微鏡模式。

  • Contact Mode(接觸模式)

  • Tapping Mode(輕敲模式)

  • Lateral Force Microscope(橫向力/摩擦力顯微鏡)

  • Phase Imaging(相位成像)

  • Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)

  • Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)

  • Conductive Atomic Force Microscopy (導(dǎo)電原子力顯微鏡)

  • Kelvin Probe Force Microscopy (開(kāi)爾文探針力顯微鏡)

  • Force Curve Spectroscopy(力曲線)

  • Liquid Imaging(液態(tài)環(huán)境掃描)

  • Heater-Cooler Imaging(高低溫環(huán)境掃描)

  • SThM(掃描熱顯微鏡)

  • Nano-TA(納米熱分析)

  • LCR(洛倫茲納米力學(xué)分析)


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