簡(jiǎn)要描述:bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級(jí)別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)。
產(chǎn)品目錄
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品牌 | Bruker/布魯克 | 信噪比 | / |
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掃描速度 | <3s/光譜秒 | 分辨率 | <1cm-1 |
波數(shù)范圍 | 800-3600cm-1 | 儀器類(lèi)型 | 實(shí)驗(yàn)室型 |
價(jià)格區(qū)間 | 20萬(wàn)-25萬(wàn) | 儀器種類(lèi) | 激光紅外 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,石油,電子,紡織皮革 |
bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級(jí)別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)。
下面是bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
10nm超高化學(xué)解析分辨率,揭示微區(qū)化學(xué)組分
準(zhǔn)確的微區(qū)化學(xué)表征:基于光熱誘導(dǎo)效應(yīng)PTIR原理,與FTIR光譜*吻合,沒(méi)有吸收峰的任何偏移;
超快光譜采集:光譜采集速度:<3s/光譜,光譜分辨率:<1 cm-1;
AFM成像速度一致的快速化學(xué)成像,全自動(dòng)光路優(yōu)化,避免實(shí)驗(yàn)困惱;
二維可視化光斑追蹤,保證最佳信號(hào);
全自動(dòng)軟件控制入射光束準(zhǔn)直技術(shù)修正激光的偏移,動(dòng)態(tài)能量調(diào)整,確保信號(hào)的準(zhǔn)確性;
嵌段共聚物P2VP&PS的AFM-IR光譜和紅外成像
超寬中紅外激光,實(shí)現(xiàn)O-H, N-H, C-H等官能團(tuán)的表征
超寬中紅外激光:800-3600 cm-1;
多種光源可選,可集成THz,同步輻射光源,可見(jiàn)光,近紅外,自由電子激光器等;
PS的寬波段納米紅外光譜,與FTIR光譜一致
CH3NH3PbI3的微區(qū)電子吸收成像(13250 cm-1)和AFM-IR光譜
Hyperspectrum全像素三維光譜技術(shù)
超快光譜:~1s/pixel;
AFM任意點(diǎn)的全譜信息;
支持全系列掃描探針顯微鏡模式。
Contact Mode(接觸模式)
Tapping Mode(輕敲模式)
Lateral Force Microscope(橫向力/摩擦力顯微鏡)
Phase Imaging(相位成像)
Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)
Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)
Conductive Atomic Force Microscopy (導(dǎo)電原子力顯微鏡)
Kelvin Probe Force Microscopy (開(kāi)爾文探針力顯微鏡)
Force Curve Spectroscopy(力曲線)
Liquid Imaging(液態(tài)環(huán)境掃描)
Heater-Cooler Imaging(高低溫環(huán)境掃描)
SThM(掃描熱顯微鏡)
Nano-TA(納米熱分析)
LCR(洛倫茲納米力學(xué)分析)
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