布魯克納米壓痕儀的 Hysitron TI 980 TriboIndenter 同時(shí)具有大性能、靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺(tái)行業(yè)的系統(tǒng)以數(shù)十年的 Hysitron 技術(shù)創(chuàng)新為基礎(chǔ)，在納米力學(xué)特性測(cè)試方面提供更高水平的非凡性能、增強(qiáng)的功能的多功能性。Hysitron TI 980 納米壓痕儀是在準(zhǔn)確控制、測(cè)試帶寬、測(cè)試靈活性、適用性、測(cè)量可靠性和系統(tǒng)模塊化方面都取得了顯著進(jìn)步。

簡(jiǎn)易高速的自動(dòng)化

海思創(chuàng)TI 980提供了高通量表征所需的快速、多樣品和多技術(shù)自動(dòng)測(cè)試能力。它可以按照設(shè)定時(shí)間間隔自動(dòng)驗(yàn)證針尖形狀，還可以實(shí)現(xiàn)多尺度下的高分辨成像和全樣品光學(xué)掃描。

不會(huì)過(guò)時(shí)的表征潛力

鑒于將來(lái)會(huì)出現(xiàn)不同與今日的表征需求，TI 980納米壓痕儀被設(shè)計(jì)為具有好的靈活性。TI 980支持大量集成和具有相關(guān)性的納米力學(xué)表征技術(shù)，使您時(shí)刻保持在材料研發(fā)前沿。集成多種系統(tǒng)控制模塊和數(shù)據(jù)分析軟件、通用樣品固定選項(xiàng)（機(jī)械、磁性和真空）和模塊化環(huán)境腔，TI 980也適用于您將來(lái)的表征需求。

技術(shù)參數(shù)

1）樣品尺寸：≤100mm×100mm×50mm；  

2）樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：≤250mm×150mm；

3）低載最大壓入位移≥5μm，高載最大位移≥80μm；

4）SPM原位掃描成像: 分辨率約100nm；

5）高溫樣品加熱臺(tái)溫度：≤600 ℃；

6）環(huán)境溫漂：≤0.05nm/s。

Bruker Hysitron TI 980應(yīng)用行業(yè)：

表征材料表面微/納米尺度內(nèi)的強(qiáng)/硬度、彈性模量，蠕變、應(yīng)力松弛、斷裂韌性、屈服強(qiáng)度（Pillars）、殘余應(yīng)力和結(jié)合力，測(cè)量得到材料載荷—位移曲線，主要應(yīng)用于生物材料、金屬材料、膜材料、聚合物材料、無(wú)機(jī)非金屬材料等領(lǐng)域。

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